高低温冲击试验箱的操作规范及解决方案

高低温冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化，测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质，从精密的IC到重机械的组件，都会用到，是各领域对产品测试的不可少的一项测试箱。

冷热冲击试验箱采用单片机控制，电动扬摆、冲击、微机测量、运算、数显结果并可打印等，工作效率高、测试精度高。在冲击试样后可利用剩余能量自动扬摆，做好下次试验准备，操作简便，工作效率高。

1、检查冷热冲击试验箱，使摆锤刀口处于两支承钳口的中心。校正钳口间的距离为。并检查其空打时指针是否从上止点（最大刻度）带至下止点（零刻度）证明确无能量损耗，方能进行正式试验，然后举起摆锤，将摆锤固定于规定的高度，同时把指针拨到最大刻度处，使试验机控制杆处于冲击试验的预备位置。

2、测量试样尺寸。冷热冲击试验箱如有条件可用冲击试样缺口投影仪检查试样缺口处的形状尺寸及加工精度是否符号标准要求，剔除不合试验要求的试样，然后对试样编号，并记下各试样缺口横截面处的尺寸。

3、试验样品应按标准要求放置在试验箱内，并将试验箱(室)内温度升到所需点，保持一定的时间至试验样品达到温度稳定，以时间长都为准。

4、高温阶段结束后，在5min内将试验样品转换到已调节到-55℃的低温试验箱(室)内，保持1h或者直至试验样品达到温度稳定，以时间长度为准。

5、低温阶段结束后，在5min内将试验样品转换到已调节到70℃的高温试验箱(室)内，保持1h或者直至试验样品达到温度稳定，以时间长度为准。

重复上述实验方法，以完成三个循环周期。根据样件大小与空间大小，时间可能会略有误差。

恢复：试验样品从试验箱内取出后，应在正常的试验大气条件下进行恢复，直至试验样品达到温度稳定。